بررسی ساختار کریستالی نانو مواد با بهره گیری از آنالیز پراش اشعه ی ایکس XRD

سال انتشار: 1401
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 998

فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

IMTC03_014

تاریخ نمایه سازی: 17 آبان 1401

چکیده مقاله:

آنالیز پراش اشعه ی ایکس یا (X-Ray Diffraction) XRD یک روش تحلیلی سریع است که در درجه اول برای شناسایی فاز یک ماده بلوری مورد استفاده قرار میگیرد و میتواند اطلاعاتی در مورد آن ارائه دهد. آنالیز XRD برای ارزیابی مواد معدنی، پلیمرها، فرآورده های خوردگی و مواد ناشناخته میسر است. این تکنیک که به طور خلاصه XRD نامیده میشود، برای اولین بار توسط ماکس فون لاو در سال ۱۹۱۲ کشف گردید. XRD از طریق مطالعه ساختار بلوری، برای شناسایی فاز کریستالی موجود در ماده استفاده می شود و بدین ترتیب اطلاعات ترکیب شیمیایی را مشخص میکند. شناسایی فاز توسط آنالیز XRD با مقایسه اطلاعات به دست آمده با داده های مرجع حاصل میشود. در بیشتر موارد نمونه های آزمون XRD یا پراش اشعه X با استفاده از نمونه های تهیه شده به صورت پودرهای بسیار ریز آنالیز میشوند. در مقاله ی حاضر، نحوه ی آماده سازی نمونه، محاسبه ی اندازه ی کریستالی ذرات، درصد کریستالی، ابعاد سلول واحد و تحلیل داده های بدست آمده بررسی شده است.

کلیدواژه ها:

پراش اشعه ی ایکس ، کریستالوگرافی ، شناسایی فاز.

نویسندگان

پریسا یکان مطلق

ایران، تبریز، دانشگاه تبریز، دانشکدهی شیمی، گروه شیمی کاربردی

ابوالفضل توتونچی

ایران، تبریز، دانشگاه تبریز، دانشکدهی مکانیک، گروه مهندسی مواد و متالوژی.ایران، تبریز، دانشگاه تبریز، آزمایشگاه مرکزی

تارا قدرتی

ایران، تبریز، دانشگاه تبریز، دانشکدهی مکانیک، گروه مهندسی مواد و متالوژی