ارائه مدل فیزیکی اداوات نیمه هادی الکترونیک قدرت سیلیکون کاربید جهت کنترل افت ولتاژ بایاس مستقیم و ولتاژ شکست معکوس

سال انتشار: 1393
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 215

فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ISCEE17_157

تاریخ نمایه سازی: 28 بهمن 1401

چکیده مقاله:

در اینجا یک مدل مبتنی بر فیزیک ترانزیستور پیوند دو قطبی و صحت اعتبار آن نشان می دهیم که راه حل سری فوریه به منظور حل معادله انتشار تساوی یون های مثبت و منفی در ناحیه کلکتور ترانزیستور استفاده می شود که یک مدل یک ب عدی کامل برای محاسبه حداقل عرض لایه تخلیه برای بدست آوردن شکست یک ساختار p+n-n+ به کار بردیم . محاسبه عرض بهینه لایه تخلیه در ولتاژهای انسداد مختلف به منظور دستیابی به حداقل افت مستقیم قرار میگیرد که محاسبه ضخامت های ناحیه رانش دارای ناخالصی کم و ولتاژ شکست مرتبط با آن و افت ولتاژهای مستقیم ، ولتاژ بالایی به ساختارp+n-n+ اعمال می گردد.

کلیدواژه ها:

ترانزیستور پیوند دوقطبی سیلیکون کاربید ، مدلسازی نیمه هادی قدرت ، معادلهADE ، ناحیه رانش

نویسندگان

وحید صادقی دنیانی

دانشگاه آزاد اسلامی ، واحد بوشهر، گروه مهندسی برق، بوشهر، ایران،

محسن معصومی

دانشگاه آزاد اسلامی ، واحد جهرم، گروه مهندسی برق، جهرم، ایران

محمدنادر کاکایی

دانشگاه ازاد اسلامی ، واحد بوشهر ،گروه مهندسی برق، بوشهر، ایران