تشخیص عیوب بر روی میوه در محیط های صنعتی با استفاده از الگوریتم های پردازش تصویر و یادگیری ماشین

سال انتشار: 1401
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 230

فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF و WORD قابل دریافت می باشد

این مقاله در بخشهای موضوعی زیر دسته بندی شده است:

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

EMAECONF01_010

تاریخ نمایه سازی: 15 فروردین 1402

چکیده مقاله:

این پروژه برای تشخیص عیوب میوه ها (تشخیص میوه های فاسد از میوه های سالم) بر روی میوه های پرطرفدار مانند سیب و موز در محیط های صنعتی، از الگوریتم های پردازش تصویر مانند سطح خاکستری و هیستوگرام هر تصویر ورودی برای مناطق معیوب و بیماری استفاده شده است. از چندین الگوریتم یادگیری ماشین که محبوب و قدرتمند هستند مانند KNN و SVM برای طبقه بندی میوه های سالم و میوه های فاسد تا به حداقل رساندن خطاهای سیستم (به حداقل رساندن خطاهای انسانی) استفاده کرد. در بخش یادگیری ماشین، با استفاده از SVM دقت ۹۶/۸ % برای جدا کردن موز خراب از موز سالم به دست آمد.

نویسندگان

وحید کاملی

دانشجوی دکتری دانشگاه صنعتی شاهرود

هادی گرایلو

استادیار دانشکده مهندسی برق، دانشگاه صنعتی شاهرود