تمام جمع کننده های تحمل پذیر اشکال نانومتری در تکنولوژی اتوماتای سلولینقطه - کوانتومی

سال انتشار: 1402
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 77

فایل این مقاله در 30 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ICPCONF09_093

تاریخ نمایه سازی: 8 مهر 1402

چکیده مقاله:

فضای اشغالی (Occupied Area) ، توان مصرفی (Power Consumption) و تاخیر (Delay) از جمله پارامترهایبسیار مهم و تاثیرگذار در پیاده سازی مدارات مجتمع محسوب می شوند. فناوری اتوماتای سلولی نقطه کوانتومی( Quantum-Dot Cellular Automata) یکی از فناوری های نوظهور جهت پیاده سازی مدارات در مقیاس نانو میباشد که به دلیل فضای اشغالی و توان مصرفی بسیار پایین و نیز سرعت بسیار بالا، به عنوان یکی از بهترینفناوری های جایگزین برای مدارات برپایه Oxide Semiconductor-Complementary Metal CMOS می باشد.یکی از چالش های اساسی در تکنولوژی اتوماتای سلولی نقطه کوانتومی، وقوع اشکالات مختلف در زمان پیادهسازی مدرات است. بنابراین طراحی مدرات با قابلیت تحمل پذیری اشکال در این نانو تکنولوژی به عنوان یکمسئله اساسی مورد توجه محققین قرار گرفته است. مدار تمام جمع کننده به عنوان یکی از مدرات پایه ای درسیستم های دیجیتال محسوب می شود. وجود یک مدار تمام جمع کننده با قابلیت تحمل پذیری اشکال می تواندقابلیت اطمینان را در سیستم های دیجیتالی را افزایش دهد. در این مقاله به معرفی و بررسی جامع تعدادی ازکارامد ترین مدارات تمام جمع کننده با قابلیت تحمل پذیری اشکال پرداخته خواهد شد.

نویسندگان

فاطمه اکبریان

کارشناسی ارشد معماری سیستم های کامپیوتری، دانشگاه آزاد اسلامی واحد دهلران

محمد مصلح

دکترای معماری کامپیوتر عضو هیئت علمی گروه مهندسی کامپیوتر،دانشکده کامپیوتر،دانشگاهآزاد اسلامی واحد دزفول