معرفی طیف سنجی پراش اشعه X و کاربرد آن در مشخصه یابی آسفالتین
محل انتشار: سومین همایش تجهیزات و مواد آزمایشگاهی صنعت نفت
سال انتشار: 1396
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 70
فایل این مقاله در 8 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
IRANLABCO03_119
تاریخ نمایه سازی: 16 دی 1402
چکیده مقاله:
طیف سنجی پراش اشعه (XRD) X یک تکنیک بسیار سریع و تحلیلی به منظور شناسایی فاز یک ماده ی کریستالی است . امروزه این تکنیک یکی از روش های معمول برای مطالعه ساختارهای کریستالی و فاصله اتمی است . اشعه های X مورداستفاده در پراش، به طورمعمول دارای طولموجی در حدود ۵,۰ تا ۵,۲ آنگستروم هستند ازاین رو این روش بر مبنای خاصیت موجی اشعه بناشده است ؛ بنابراین با به کارگیری این ناحیه طیفی می توان اطلاعاتی بسیار کاربردی ساختارهای کریستالی را نظیر هندسه شبکه ، تعیین اندازه کریستال ها، جهت گیری تک کریستال و عیوب ساختار را تعیین نمود. علاوه بر این طیف سنجی پراش اشعه X با مشخص نمودن پارامترهای تاثیرگذاری چون زاویه براگ، شدت و پهنای پیک ها و اندازه ذرات توانایی شناسایی ترکیبات را داراست . در این مقاله ابتدا به اساس کار و سپس به معرفی سایر اجزای طیف سنجی پراش اشعه X و کاربرد آن در مشخصه یابی آسفالتین پرداخته می شود.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
سمیرا سلجوقی پبدنی
دانشجوی کارشناسی ارشد، گروه مهندسی شیمی ، دانشکده فنی مهندسی ، دانشگاه محقق اردبیلی ، اردبیل ، ایران
بهروز میرزایی
هیئت علمی گروه آموزشی مهندسی شیمی ، دانشکده فنی مهندسی ، دانشگاه محقق اردبیلی ، اردبیل ،ایران