مروری بر طیف سنجی فوتوالکترون پرتو (XPS) X وکاربردهای آن
محل انتشار: سومین همایش تجهیزات و مواد آزمایشگاهی صنعت نفت
سال انتشار: 1396
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 44
فایل این مقاله در 12 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
IRANLABCO03_133
تاریخ نمایه سازی: 16 دی 1402
چکیده مقاله:
طیف سنجی فوتوالکترون پرتو (XPS) X به یکی از پرکاربردترین تکنیک های آنالیز سطح تبدیل شده است . XPSیا طیف سنجی الکترونی برای تجزیه و تحلیل شیمیایی با قابلیت به دست آوردن ترکیب عنصری کمی ، حالت شیمیایی و اطلاعات ضخامت لایه پوششی از بالای ۱۰ نانومتر از سطح نمونه ، یک روش همه کاره و گسترده است . در این مقاله مروری ، اصول اولیه این تکنیک از جمله اثر فوتوالکتریک ، چگونگی برهمکنش الکترون ها با ماده، عوامل موثر در این تکنیک مانند آلودگی سطحی ، و اثر محیط شیمیایی اطراف یک عنصر بر انرژی اتصال الکترون های خود ارائه شده است . همچنین کاردبردها و روشکار این تکنیک مورد بحث قرار گرفته است .
کلیدواژه ها:
نویسندگان
فرخفر ولیزاده هرزند
دانشگاه محقق اردبیلی ،
علی نعمت اله زاده
دانشگاه محقق اردبیلی ،