مقدمه ای بر روش تحلیلی پراش الکترون های به عقب رانده شده (EBSD)
محل انتشار: فصلنامه مواد نوین، دوره: 4، شماره: 11
سال انتشار: 1392
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 35
فایل این مقاله در 14 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
JR_JNMMI-4-11_005
تاریخ نمایه سازی: 25 بهمن 1402
چکیده مقاله:
در این نوشتار مقدمه ای بر روش کارآمد و در حال تکامل (EBSD) Electron Backscattered Diffraction ارایه می شود. روش پراش الکترون های به عقب رانده شده(EBSD) توانایی های قابل توجهی در بررسی کمی و کیفی ریزساختار دارد. توسعه EBSDبتازگی مورد توجه وسیع صنایع و مراکز پژوهشی قرار گرفته، به گونه ای که به روش اصلی بررسی ریزساختار در بسیاری از این مراکز تبدیل شده است. این روش در محاسبه جهات بلوری ریزساختارها (Nano and Microstructures)، تشخیص فاز و میزان توزیع فازها کاربرد دارد. شواهد اولیهEBSD در سال ۱۹۲۸ در میکروسکوپ الکترون عبوری(TEM) دیده شد و تا به امروز پیشرفت های شایانی در بهبود تصویر و استخراج داده ها صورت گرفته است. از آن جمله می توان به توسعه سخت افزار، تهیه نرم افزارها، ابداع روش های مشاهده تصویر و کمیت سازی ریزساختار اشاره کرد. اصول،تاریخچه،کاربردها و چندین مثال کاربردی ازEBSDد در این نوشتار ارایه می شوند.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
مهرداد عباسی
نویسنده
مجید عباسی
نویسنده
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :