اندازه گیری همزمان ضریب شکست و ضخامت فیزیکی دستگاه های چندلایه ای با استفاده از نتایج مقطع نگاری همدوسی اپتیکی در فضای فوریه
محل انتشار: مجله پژوهش فیزیک ایران، دوره: 18، شماره: 1
سال انتشار: 1397
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 560
فایل این مقاله در 10 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
JR_PSI-18-1_014
تاریخ نمایه سازی: 30 دی 1397
چکیده مقاله:
در مقطع نگاری همدوسی اپتیکی در فضای فوریه1، تصویری از ضخامت اپتیکی یعنی حاصل ضرب ضریب شکست n در ضخامت فیزیکی d، مثلا برای لایه های شبکیه چشم به دست می آید که برای تشخیص بسیاری از بیماریها در بیمارستان های کشور استفاده میشود. در کار حاضر، ما یک روش جهت اندازه گیری همزمان و مجزای ضریب شکست و ضخامت فیزیکی دستگاه های چندلایهای با استفاده از مقطع نگاری همدوسی اپتیکی در فضای فوریه بدون اطلاعات اضافی از ساختار نمونه، معرفی میکنیم. در این روش تنها داده های ورودی، طیف به دست آمده از FD-OCT وضخامت اپتیکی لایه های نمونه که از انتقال فوریه ی طیف تداخلی به دست می آید، است. نتایج شبیه سازی بیانگر این مطلب است، که دقت کمیتهای اندازه گیری شده به اختلاف ضریب شکست دو طرف سطوح نمونه بستگی دارد، چون هرچه اختلاف ضریب شکست دو لایه مجاور بیشتر باشد ضریب بازتاب اپتیکی از آن بیشتر خواهد بود. همچنین نشان خواهیم داد که دقت کمیتهای به دست آمده تحت تاثیر دقت اندازه گیری ضخامت اپتیکی لایه ها است. بنابراین روشی جهت بهینه کردن دقت این کمیتها با وجود عدم قطعیت در اندازه گیری ضخامت اپتیکی معرفی میکنیم. نتایج شبیه سازی نشان داده است، برای نمونه های زیستی شفاف که در محیط آبی قرار دارند، اگر ضریب شکست لایه ها کمتر از1/55 باشند کمیتها با خطای کمتر از 0/001 قابل اندازه گیری اند.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
احمد امجدی
دانشکده فیزیک، دانشگاه صنعتی شریف، تهران
خلیل قاسمی فلاورجانی
کلینیک چشم پزشکی، بیمارستان رسول اکرم (ص)، تهران
نیلوفر معظمی گودرزی
دانشکده فیزیک، دانشگاه صنعتی شریف، تهران