سنتز و مشخصه یابی اکسید گرافن با استفاده از پراش پرتو ایکس و طیف سنجی رامان

سال انتشار: 1401
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 352

فایل این مقاله در 5 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

IMTC03_091

تاریخ نمایه سازی: 17 آبان 1401

چکیده مقاله:

گرافن و مشتقات آن به دلیل ویژگیهای خاص مکانیکی، شیمیایی و الکتریکی یکی از گزینه های مناسب برای کاربردهای مختلف نظیر کاربرد در ساخت انواع کامپوزیت ها میباشند. کامپوزیتهای مختلف گرافن با موادی همچون پلیمرها، نانو ذرات فلزی و مواد کربنی مختلف خواص ویژه ای را ایجاد میکند که موجب میشود این دسته از مواد در کاربردهایی همچون بیوسنسورها، ذخیره سازی انرژی، داروسازی و تصفیه آب مورداستفاده قرار گیرند. در این مقاله سنتز و مشخصه یابی اکسید گرافن موردبررسی قرارگرفته است. ابتدا اکسید گرافن به روش هامرز بهبودیافته سنتز شده و سپس نمونه با آنالیزهای پراش پرتوایکس (XRD) و طیف سنجی رامان مشخصه یابی شده است. از آنالیزهای XRD و طیف سنجی رامان برای بررسی تغییرات ساختاری ایجادشده در گرافیت حین سنتز و تشکیل اکسید گرافن استفاده شده است.

کلیدواژه ها:

اکسید گرافن ، پراش پرتو ایکس (XRD) ، طیف سنجی رامان

نویسندگان

مصطفی بدرود

دانشجوی کارشناسی ارشد، گروه مهندسی شیمی ، دانشکده فنی مهندسی، دانشگاه محقق اردبیلی، اردبیل، ایران

فهیمه حوری آباد صبور

هیئتعلمی گروه آموزشی مهندسی شیمی، دانشکده فنی مهندسی، دانشگاه محقق اردبیلی، اردبیل، ایران

مجید صفاجو جهانخانملو

هیئتعلمی گروه آموزشی مهندسی شیمی، دانشکده فنی مهندسی، دانشگاه محقق اردبیلی، اردبیل، ایران