اندازه گیری ضریب شکست تیغه های اپتیکی نازک از طریق تداخل سنج مایکلسون
سال انتشار: 1402
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 63
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
UIP21_029
تاریخ نمایه سازی: 16 اسفند 1402
چکیده مقاله:
در این تحقیق لایه نشانی (CdTe) به روش الکترو دیپوزیشن بر روی زیر لایه Ito ⁄ لام انجام گرفت و ضریب شکست هر یکاز تیغه ها و ضریب شکست موثر آن ها با استفاده از تداخل سنجی مایکلسون اندازه گیری شد . لایه ی CdTe با ضخامت ۶ / ۲ میکرومتربر روی زیر لایه نشانده شده و ضریب شکست لام ، Ito و CdTe به ترتیب ۴ / ۱ ، ۹ / ۱ و ۹ / ۲ اندازه گیری شد. اندازه گیری ضریبشکست باروش تداخل سنجی مایکلسون میتواند جایگزین روش های گران قیمت شود.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
نرجس حق جو
دانشجو کارشناسی فیزیک مهندسی دانشگاه ولیعصر(عج) رفسنجان
امیرحسین شکوه
دانشجو کارشناسی ارشد فوتونیک دانشگاه ولیعصر(عج) رفسنجان
محمد خان زاده
استادیارد گروه فیزیک دانشگاه ولیعصر(عج) رفسنجان