بررسی اثر تیمار میدان الکتریکی پالسی (PEF) بر کیفیت شربت خام استخراج شده از چغندر قند
سال انتشار: 1397
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 69
فایل این مقاله در 10 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
JR_FSCT-15-75_023
تاریخ نمایه سازی: 3 آذر 1402
چکیده مقاله:
چکیده
روش متداول استخراج قند از چغندر در دمای بالا (۷۳-۷۰ درجه سانتی گراد ) و مدت طولانی (۷۰ دقیقه) انجام می گیرد، که موجب حضور مقدار زیادی از ترکیبات ناخالص (مانند پکتین ها و ملانوئیدین ها) در شربت بدست آمده و مصرف بالای آب و انرژی می شود. در پژوهش حاضر، استخراج از خلال های چغندر قند که تحت پیش تیمار در میدان الکتریکی پالسی قرار گرفتند، بررسی شد. پیش تیمار میدان الکتریکی پالسی در شدت میدان الکتریکی ۵/۱ کیلو ولت بر سانتی متر و تعداد پالس ۲۰ عدد اعمال گردید. دمای استخراج در محدوده ۲۰ تا ۷۳ درجه سانتی گراد بود. کیفیت شربت خام استخراج شده توسط تعیین میزان مواد جامد محلول ( درجه بریکس)، مقدار سوکروز، خلوص شربت، غلظت ترکیبات کلوئیدی و میزان پروتئین تعیین گردید. نتایج نشان دادند که شربت خام استخراج شده از خلال هایی که تحت تیمار میدان الکتریکی پالسی قرار گرفته و در دمای ۴۰ درجه سانتی گراد نسبت به شربت استخراج شده در دمای ۷۲ درجه سانتی گراد و بدون اعمال پیش تیمار، دارای خلوص بیشتر، غلظت ناخالصی های کلوئیدی کمتر، میزان ترکیبات رنگی کمتر و میزان کدورت کمتری بودند. نتایج بدست آمده ثابت می کنند که استخراج سرد با پیش تیمار میدان الکتریکی پالسی امکان تولید شربت قند با خلوص بالا را فراهم می آورد. از سوی دیگر استفاده از تیمار میدان الکتریکی پالسی روشی غیر حرارتی برای افزایش نفوذپذیری غشاء سلولی است که باعث بهبود راندمان استخراج قند از چغندر قند می گردد.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
Kobra Rezaei
Research Institute of Food Science and Technology (RIFST)
Mostafa Shahidi Noghabi
Associate Professor of Food Chemistry department, Research Institute of Food Science and Technology (RIFST)
Khalil Behzad
Contribution from college of agriculture, Ferdowsi University of Mshhad
Abdolmajid Maskooki
Associate Professor of food processing department, Research Institute of Food Science and Technology (RIFST)
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :